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冷熱沖擊試驗箱技術規格:
東莞市賽思檢測設備有限公司 | ||||||
型號 | SET-A | SET-B | SET-C | SET-D | SET-G | |
內部尺寸cm | 40*35*35 | 50*50*40 | 60*50*50 | 70*60*60 | 80*70*60 | |
外部尺寸cm | 140*165*165 | 150*190*175 | 160*190*185 | 170*240*195 | 180*260*200 | |
結構 | 三廂式(預冷箱)(預熱箱)(測試箱) | |||||
氣門裝置 | 強制的空氣裝置氣門 | |||||
內箱材質 | SUS#304不銹鋼 | |||||
外箱材質 | 冷軋鋼板靜電噴塑 | |||||
冷凍系統 | 機械壓縮二元式復疊制冷方式 | |||||
轉換時間 | <10Sec | |||||
溫度恢復時間 | <5min | |||||
溫度偏差 | ±2℃ | |||||
冷卻方式 | 水冷 | |||||
駐留時間 | 30 min | |||||
溫度 范圍 | 預熱溫度 | +60~200℃(40min) | ||||
高溫沖擊 | +60~150℃ | |||||
預冷溫度 | +20℃~-80℃(70min) | |||||
低溫沖擊 | -10℃~-40℃/-55℃/-65℃ | |||||
溫度傳感器 | JIS RTD PT100Ω × 3 (白金傳感器) | |||||
控制器 | 液晶顯示觸摸屏PLC控制器 | |||||
控制方式 | 靠積分飽和PID,模糊算法平衡式調溫P.I.D + P.W.M + S.S.R | |||||
標準配置 | 附照明玻璃窗口1套、試品架2個、測試引線孔1個 | |||||
安全保護 | 漏電、短路、超溫、缺水、電機過熱、壓縮機超壓、超載、過電流保護 | |||||
電源電壓 | AC380V 50Hz三相四線+接地線 |
溫度過沖的危害
……溫度試驗箱在開機和每次的加溫、保溫過程中產生的溫度過沖對試驗產品是非常有害的。尤其是那些溫度敏感的產品和膠合材料,瞬時過沖的溫度都會導致產品的損壞和膠合材料的失效。……
溫度過沖相關概念
3.2.15
溫度過沖 temperature over
在設備升溫或降溫至規定溫度過程中,工作空間實際溫度超出規定溫度允許范圍。
3.2.16
溫度過沖量 temperature overshoot
在設備升溫或降溫至規定溫度過程中,工作空間實際溫度超出規定溫度允許范圍的量。
計算公式如下:
ΔT0=|T-Ts|-|ΔT|
式中:
ΔT0——溫度過沖量,單位為攝氏度(℃);
T——在設備升溫或降溫至規定溫度過程中,工作空間實際高或低溫度,單位為攝氏度(℃);
Ts——設定溫度,單位為攝氏度(℃);
ΔT——溫度允許偏差值,單位為攝氏度((℃)。
3.2.17
溫度過沖恢復時間 recovery time of temperature over
在設備升溫或降溫至規定溫度過程中,工作空間實際溫度從超出規定溫度允許范圍至開始穩定在規定溫度允許范圍的時間。
——GB/T 5170.1-2016 檢測方法第1部分:總則
8.8 溫度過沖量檢驗
8.8.1 測量點位置
溫度過沖量測量點規定為設備工作空間的幾何中心點。
8.8.2 檢驗步驟及計算檢驗結果
溫度過種量檢驗步驟及計算檢驗結果如下:
溫度過種量檢驗與溫度偏差檢驗同時進行;
在設備升溫或降溫至設定溫度過程中,測量和記錄實際達到的高溫度值或低溫度值;
對所記錄的測量數據,按測量系統的修正值進行修正;
取b)所記錄的測量數據,按式(10)計算溫度過沖量:
ΔT0=|T-Ts|-|ΔT|
式中:
ΔT0——溫度過沖量,單位為攝氏度(℃);
T——在設備升溫或降溫至規定溫度過程中,測量點實測的高或低溫度值,單位為攝氏度(℃);
Ts——設定的溫度值,單位為攝氏度(℃);
ΔT——溫度允許偏差值,單位為攝氏度((℃)。
注:設備升溫時,測量點的溫度沒有超出允許的高溫度,設備降溫時,測量點的溫度沒有超出允許的低溫度,則不存在溫度過沖,即沒有溫度過沖量 東莞市賽思檢測設備有限公司 。
8.9 溫度過沖恢復時間檢驗
8.9.1 測量點位置
溫度過沖恢復時間測量點規定為設備工作空間的幾何中心點。
8.9.2 檢驗步驟及計算檢驗結果
溫度過沖恢復時間檢驗與溫度過沖量檢驗同時進行。在溫度過沖量檢驗時,記錄測量點溫度從發生溫度過沖時起,到開始穩定在允許的高溫度內(設備升溫至設定溫度時)或允許的低溫度內(設備降溫至設定溫度時)所需要的時間,即為設備在該檢驗溫度下的溫度過沖恢復時間,單位為分(min)東莞市賽思檢測設備有限公司 。
注:只有存在溫度過沖時,才有溫度過沖恢復時間。
——GB/T 5170.2-2017 檢驗方法第2部分:溫度試驗設備
其它相關標準
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007,IDT)
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-2:2007,IDT)
GB/T 2423.22-2012 環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化