插拔力測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-13

目的：驗(yàn)證連接器的插拔力是否符合產(chǎn)品規(guī)格要求

原理：將連接器按規(guī)定速率進(jìn)行*插合或拔出，記錄相應(yīng)的力值

測試設(shè)備：插拔力試驗(yàn)機(jī)SE-1220S

耐久性測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-09

目的：評(píng)估反復(fù)插拔對(duì)連接器的影響，模擬實(shí)際使用中連接器的插拔狀況

原理：按照規(guī)定速率連續(xù)插拔連接器直至達(dá)到規(guī)定次數(shù)。

測試設(shè)備：插拔力試驗(yàn)機(jī)SE-1220S

絕緣電阻測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-21

目的：驗(yàn)證連接器的絕緣性能是否符合電路設(shè)計(jì)的要求或經(jīng)受高溫，潮濕等環(huán)境應(yīng)力時(shí)，其阻值是否符合有關(guān)技術(shù)條件的規(guī)定。

原理：在連接器的絕緣部分施加電壓，從而使絕緣部分的表面或內(nèi)部產(chǎn)生漏電流而呈現(xiàn)出來的電阻值。

耐電壓測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-20

目的：驗(yàn)證連接器在額定電壓下是否能安全工作，能否耐受過電位的能力， 從而評(píng)定連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合適 原理：在連接器接觸件與接觸件之間，接觸件與外殼之間施加規(guī)定電壓并保持規(guī)定時(shí)間，觀察樣品是否有擊穿或放電現(xiàn)象。

 接觸電阻測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-06/EIA-364-23

目的：驗(yàn)證電流流經(jīng)接觸件的接觸表面時(shí)產(chǎn)生的電阻值

原理：通過對(duì)連接器通規(guī)定電流，測量連接器兩端電壓降從而得出電阻值

振動(dòng)測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-28

目的：驗(yàn)證振動(dòng)對(duì)電連接器及其組件性能的影響

振動(dòng)類型：隨機(jī)振動(dòng)，正弦振動(dòng)

機(jī)械沖擊測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-27

目的：驗(yàn)證連接器及其組件耐沖擊的能力或評(píng)定其結(jié)構(gòu)是否牢固

測試波形：辦正弦波，方波      

冷熱沖擊測試 

測試設(shè)備：冷熱沖擊試驗(yàn)箱SET-B5

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-32

目的：評(píng)估連接器在急速的大溫差變化下，對(duì)于其功能品質(zhì)的影響

溫濕度組合循環(huán)測試

測試設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱/高低溫濕熱試驗(yàn)箱SEH-1000CS

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-31

目的：評(píng)估連接器在經(jīng)過高溫高濕環(huán)境儲(chǔ)存后對(duì)連接器性能的影響

高溫測試

測試設(shè)備高溫試驗(yàn)箱參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-17

目的：評(píng)估連接器暴露在高溫環(huán)境中于規(guī)定時(shí)間后端子和絕緣體性能是否發(fā)生變化

鹽霧測試

測試設(shè)備鹽霧試驗(yàn)機(jī)SE-952B

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-26

目的：評(píng)估連接器，端子，鍍層耐鹽霧腐蝕能力

混合氣體腐蝕測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-65

目的：評(píng)估連接器暴露在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕能力及對(duì)其性能的影響

線材搖擺測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-41

目的：評(píng)估連接器經(jīng)受反復(fù)來回應(yīng)力的能力以及評(píng)估此過程中的電連續(xù)性

溫升測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-70

目的：評(píng)估當(dāng)端子通額定電流時(shí)，端子的溫升是否超過規(guī)定值